Главная / Состав АТУ / НИЯУ МИФИ

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

НИЯУ МИФИ

основан в 1942 году

Контакты

тел.: (495) 324-33-84
     (495) 788-56-99 доб. 9900

факс: (495) 324-21-11

e-mail: rector@mephi.ru, info@mephi.ru

сайт: www.mephi.ru

адрес: 115409, г.Москва, Каширское шоссе, д.31

Стриханов Михаил Николаевичректор
Стриханов
Михаил Николаевич

дата рождения: 18 июля 1952 года

Принят в состав Ассоциации
решением Совета АТУ от 22 ноября 1993 года

Свидетельство №60

Фото здания

Фото здания


 

Направления подготовки и специальности

 

 

01.04.02 Прикладная математика и информатика
01.04.04 Прикладная математика
03.04.01 Прикладные математика и физика
03.04.02 Физика
09.04.01 Информатика и вычислительная техника
09.04.02 Информационные системы и технологии
09.04.03 Прикладная информатика
09.04.04 Программная инженерия
10.04.01 Информационная безопасность
11.04.04 Электроника и наноэлектроника
12.04.05 Лазерная техника и лазерные технологии
14.04.01 Ядерная энергетика и теплофизика
14.04.02 Ядерные физика и технологии

 

 


 

Научно-исследовательская инфраструктура

Центры коллективного пользования

  • Гетероструктурная СВЧ-электроника и физика широкозонных полупроводников
    перечень оборудования

    — Автоэмиссионный растровый электронный микроскоп с блоком нанолитографии Raith 150 TWO (Raith, Германия)

    — Аппарат для нанесения гальванических покрытий PGG 10/1,5 (Heimerle)

    — Большой фотомикроскоп отраженного света Neophot 30 (Carl Zeiss)

    — Измерительный комплекс полупроводниковых структур B1500A (Agilent Technologies)

    — Инфракрасный Фурье спектрометр FTIR-8400S (Shimadzu)

    — Комбинированная система нанесения и задубливания резиста Sawatec SM180 НР150 (Sawatec, Швейцария)

    — Комбинированный тандемный квадрупольно-времяпролетный масс-спектрометр «QqTOF» (Sciex Applied Biosystems)

    — Комплекс измерений S-, X- параметров PNA-X N 5245A в полосе от 0,01 до 50 ГГц (Agilent Technologies)

    — Масс-спектрометр X-Series-II с ионизацией в индуктивно-связанной плазме с системой лазерной абляции (New Wave Research)

    — Потенциостат-гальваностат P-30S (Elins)

    — Растровый электронный микроскоп DSM-960 (Opton) с рентгеновским энерго-дисперсионным анализатором Amptek (США) и сканирующим туннельным микроскопом Un-derSEM

    — Рентгеновский дифрактометр Ultima IV (Rigaku)

    — Сверхвысоковакуумная система анализа поверхности Multiprobe MXPS (Omicron) с источником осаждения нанокластеров Nanogen-50 и квадрупольным масс-фильтром MesoQ (Mantis Deposition Ltd., Великобритания)

    — Сверхвысоковакуумный комплекс (Kratos Analytical Ltd.) с модулем ИЛО для формирования и in situ анализа нанокластеров и сверхтонких слоев на базе электронного спектрометра XSAM-800

    — Система безмасковой лазерной литографии DWL 66FS (Heidelberg Instruments Mikrotechnik GmbH)

    — Система измерения удельного поверхностного сопротивления напылённых слоев RMS-EL-Z (Jandel Engineering)

    — Система измерения эффекта Холла HMS-3000 (Ecopia)

    — Системы электро-лучевого напыления тонких пленок PVD 250 (Kurt J. Lesker Company)

    — Сканирующий зондовый микроскоп «СОЛВЕР НЕКСТ» (НТ-МДТ)

    — Спектрометрический комплекс на основе монохроматора МДР-41 (ЛОМО)

    — Спектроскопический эллипсометр PHE-102 (Angstrom Advanced Inc.)

    — Спектроскопический эллипсометр SE 850 (SENTCH)

    — Установка быстрого термического отжига Modular RTP600S (Modular Process Technology Corp.)

    — Установка для исследования эффекта Холла HMS-5000 (Ecopia)

    — Установка для плазмохимического осаждения из газовой фазы LPX PECVD (SPP Process Technology Systems)

    — Установка для термического вакуумного напыления РVD-75 (Kurt J. Lesker Company)

    — Установка контактной литографии микросхем Suss MJB4 (SUSS MicroTec)

    — Установка молекулярно-лучевой эпитаксии GEN-930 (Veeco)

    — Установка плазменного травления, плазменной очистки и активации поверхности NANO-UHP (Diener Electronic GmbH)

    — Установка плазмохимического реактивно-ионного травления SPTS LPX ICP (SPP Process Technology Systems)

    — Установка эпитаксии из газовой фазы Epic CVD (SMI)

Уникальные научные установки

  • Учебно-производственный комплекс мелкосерийного производства высокотехнологичной продукции с автоматизированной системой управления
  • Экспериментальный комплекс НЕВОД
  • Фемтосекундный лазерный квадрупольный масс-спектрометр

 


Новости университета

1
2
3

5

Больше новостей…

 

Ассоциация технических университетов
105005, Москва, 2-я Бауманская, 5
Тел.: +7(499)263-69-10, +7(499)263-68-67
Тел./Факс: +7(495)632-29-90
E-mail: ntbmstu@mail.ru
Схема проезда